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在封塑成型中采用人工智能控制输入变量,预防与封装厚度相关缺陷

文章 2020-10-27 13:19

... 厚度相关问题 芯片扫描方法根据在产品配方中记录芯片配置数据,识别产品 ... 测试 根据升级软件检测每个产品材料代码测试结果,三种测试产品全部基板 ... 。 对于错位芯片,使用当次被测产品两种不同芯片尺寸进行卡 ...

嵌入式系统设计和开发资料大全

文章 2020-10-22 21:14

... 个不同层次: 第1层次:以PCBCAD软件和ICE为主要工具设计方法 ... 你产品特征一部分); 其他专业测试:包括工业级测试,例如含抗干扰测试,产品寿命测试 ... 要有“拿来主义”!现在芯片厂家一般都可以提供参考设计原理图,所以要 ...

Driver IC 热阻模型概述与计算v

论坛 2023-09-18 20:27

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片thermalperformance,而不是计算结温。不同芯片热阻是通过统一JESD51 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ...

MPS | Driver IC 热阻模型概述与计算

论坛 2023-09-29 10:19

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片thermalperformance,而不是计算结温。不同芯片热阻是通过统一JESD51 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ...

Driver IC 热阻模型概述与计算

论坛 2023-10-24 15:22

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片thermalperformance,而不是计算结温。不同芯片热阻是通过统一JESD51 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ...

MPS | Driver IC 热阻模型概述与计算

论坛 2023-12-08 15:34

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ... ,功率方向唯一性测试方法后,我们来看一下MPQ6612A热仿真测试结果。图11 ...

MPS | Driver IC 热阻模型概述与计算

论坛 2024-03-22 13:40

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片thermalperformance,而不是计算结温。不同芯片热阻是通过统一JESD51 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ...

MPS | Driver IC 热阻模型概述与计算

论坛 2024-06-07 13:38

... 之间温度差除以对应流经这两点功率;热阻θJA,θJC是用来评估不同芯片thermalperformance,而不是计算结温。不同芯片热阻是通过统一JESD51 ... 热测试标准下测试方法。(1).芯片结温TJ图4图5JESD51-1规定芯片结温测试方法 ...

基于CW32F030单片机便携式多功能测试

论坛 2024-11-08 09:55

... 芯片常开常闭引脚上,我使用是与芯片默认状态下相反 ... 生产工艺不同,如果需要更换不同型号模拟开关,请先查看芯片对应数据手册 ... 便于记录完整详实测试报告,方便软件工程师进行自主测试和后期软硬件联调工作 ... 方法烧录是否成功。六、软硬件联调及测试在硬件完成单独调试、测试 ...

英飞凌32位微控制器32 位TriCore™ AURIX™ – TC2xx资源合集

论坛 2025-01-21 17:10

... 、驱动电平计算与测量方法,还讲述了启动和振荡可靠性测试方法及故障 ... 测试时采用GCC9.4.0编译器及不同规则,展示了AURIX™TC3x和TC4x系列测试 ... 等,介绍了不同系列芯片安全模块情况,重点讲解了HSM性能、功能 ...