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... 芯片的良率，该方案将复杂SoC芯片分成更小的芯片。单芯片的 ... 同构和异构的方法。第一代Epyc采用 ... )。 因为Chiplet把芯片切分成不同的小芯片并互联，所以相关 ... 的测试功能，特别是大家都关注的KGD(Know Good Die)测试 ...
... 晶圆不同的位置加入不同的杂质, 不同杂质根据浓度/位置的不同就组成 ... 没式光刻 这个光刻的方法绝壁是个黑 ... 的缺陷在于: 衬底的厚度会影响片上的寄生电容, 间接导致芯片的 ... 零售包装：制造、测试完毕的处理器要么批量 ...
... 视觉与主控芯片的通信，用以实现数字和水果 /动物的分类与小车 ... 。找 “小 S型”道的正中心的方法为：先找出“小 ... softmax激活函数。与数字分类不同的是，如图 31所示 ... 信息使用 uart.read()函数。 实际测试时，先使用串口转 ...
... 之前需要一定程度的技术成熟度。中间方法是将基于硅的微处理器芯片集成到柔性 ... 测试程序是从ROM执行的，但这不是系统的要求；它简化了PlasticARM的测试设置。当前的ROM ... 和4.5 V下进行，具有不同的时钟频率。扩展数据图4显示 ...
... TSV通孔的存在，可以降低芯片分层的风险；对超薄芯片堆叠的3D集成组装 ... 模块的测试研究，提出了包含TSV通孔信息的测试流程、测试内容、测试端口的 ... 2.5D和3D封装的TSV结构和线上/线下测试方法（MEOL）。 ... 中不同的元器件上，产品最终失效是不同退化机理之间或不同退化模式之间的竞争 ...
... 与DFT并不是完全脱离的。Broadcom公司的测试开发工程高级总监Kris ... 的Hublitz介绍的一种简单方法是使所有主要功能模块的输入和输出可以访问芯片的 ... 的芯片之间产生的不同甚至可以启动设计的数字部分。而且，在小于90nm的 ...
... 专用系统芯片(SoC)的关键特性、体系结构和性能特征，提供了具体的测试、 ... 2给出了三种不同的完整的通过三个不同的BLE广播频道发送数据包 ... (例如传送带)的成本。这种方法的优点是不需要专门的传感器来检测物体的移动速度 ... 是由系统芯片的130 m CMOS技术所允许的最大工作电压定义的。设定 ...
... 的通用计算芯片相比，Loihi芯片的能效提升了1000倍。IBM的TrueNorth芯片 ... 不同的外部刺激源到整个测试系统中。 阵列测试方案介绍 Tektronix/Keithley公司提供丰富的测试 ...
... 选型单片机种类繁多，针对不同的应用场景，有不同的分类和选型标准，包括 ... 以及外设模拟和仿真测试的实用方法。4.1开发环境的安装与配置在开始 ... 标准测试协议，广泛用于芯片的测试和编程。SWD（SerialWireDebug）：ARM定义的一 ...
... 到测试的全方位服务。库有免费评估版和付费许可版，满足不同开发 ... 、功率半导体（OptiMOS™）及安全芯片（OPTIGA™），支持ISO26262功能安全 ... 技巧，详解ConfigWizard与开发环境的集成方法，指导用户通过参数配置优化 ...
