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... 采用的方法。 2传统的RSSI定位算法及其缺陷 传统的RSSI接收信号强度的定位方法， ... 在实际应用当中为了使不同节点在不同的环境中的模型参数都能接近理想 ... 和测试，从成本、集成度等方面出发，选择使用CC2530芯片作为系统中的 ...
... 固件的方法6）测试说明文档：描述必须测试的项目和验证系统正常运行的方法1.需求定义需求定义用来描述产品的 ... 3）芯片结构体系现在有的芯片是将多个不同功能的核封装到一个芯片IC ... 其他可能的方法来描述软件的实现方法和过程2、软件与硬件所考虑的不同之 ...
... 能装载程序芯片的其中一个类。 能烧录程序并能加密的芯片还有 DSP ... 一定的方法查找芯片中是否有连续空位,也就是说查找芯片中连续的FF FF字节，插入的 ... 则采用将芯片的不同部分暴露到紫外光下并观察结果的方式进行简单的搜索。 ... 外泻，使得利用该类芯片的设计漏洞和厂商的测试接口，并通过修改熔 ...
... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片上的所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同的电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型的测试实际上是对低噪声加速度计的"初始"测试，从而增强了进一步测试的信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用的测试方法，这非常重要，因为失调温度 ...
... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片上的所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同的电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型的测试实际上是对低噪声加速度计的"初始"测试，从而增强了进一步测试的信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用的测试方法，这非常重要，因为失调温度 ...
... 基于IGBT芯片的功率模块时，芯片的种类及并联数量的选择依据大多为芯片的结温 ... 测试与用于开关损耗评估的动态测试。后者通常的实现方法是一种称为“双脉冲测试”的方法 ... ，甚至不同的门极驱动电阻，以进行全面测试评估。一个完整的测试DoE表格 ...
... 电容器寿命的的因素(温度1) 根据铝电解电容器的电解液的不同，铝电解电容器的最高 ... 、烙铁漏电、仪器或测试台接地不当产生的感应电浪涌等。 ... 的器件用常规的筛选方法不能剔除，对可靠性危害很大。此外，芯片表面二氧化硅层中的 ...
... 断电测试的一个定义，用来模仿负载突断的一些情形。不同的汽车厂商采用不同的标准，因此负载断电测试的定义也 ... 线性芯片也会产生很大的热量。但它改善了电阻限流方法中 ... 式的驱动方法。表1是三种不同方法的比较，用开关电源作为LED驱动的方法 ...
... 可以方便集成到不同结构大小的方案中去，STM32C0x1 ... 的SPI总线与SiliconLaboratories的Si4463通讯，由Si4463芯片构建的433MHz ... 的工作原理，并分析传统的测试方法的缺陷。测试方法改进：针对半导体制冷片的 ...
... 场景。不同半导体厂商（如ELMOS、TI、ST、NXP）采用不同的测试方法，本文将对比它们的结温测试方案，并给 ... 结温的独特测试方法。从而可以实现提升芯片的整体可靠性性能指标，提升芯片的竞争力。 ...
