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功率MOSFET应用问题分析20180420

文章 2021-08-19 15:23

... )作一定降额。问题4:不同测试条件为影响MOSFET数据表中VGS ... 不同测试条件结果会不同,因此在数据表中会标明详细测试条件,从而使测试 ... 寄生二极管产生较大雪崩电流,芯片快速加热过温损坏。另一 ... 正确测量方法?事实上,如果用不同带宽,测量到尖峰电压幅值是不同 ...

硬核:嵌入式代码覆盖率统计方法和经验

文章 2021-01-07 09:18

... 系统测试覆盖率(甚至能达到100%)。因此,在不同测试 ... 使用最少RAM关键技术。 4. 结语 通过以上方法,可以 ... 续命:中国芯片之父张汝京 一个工程师“噩梦”: ...

利用虚拟工艺建模赢得全球半导体技术竞争

文章 2020-12-10 14:14

... 新芯片,对于工程师以及他们技能要求完全不同。前者目标在于创造新半导体 ... 模型来测试制造设备各种不同配置,其中变量远超真实场景下测试。通过 ... 用这些建模来测试交叉工序之间相互作用。 然而,上述方法并不足以研究各 ... 于测试众多不同工艺之间相互作用。 图2. 基于虚拟制造统计实验 用于虚拟制造 ...

FPGA开发基本流程

文章 2020-10-28 00:46

... 出来,并输入给EDA工具过程。常用方法有硬件描述语言(HDL)和 ... HDL等建立波形文件和测试向量(即将所关心输入信号组合成序列), ... 好地反映芯片实际工作情况。由于不同芯片内部延时不一样,不同布局布线方案也给延时带来不同影响 ...

【深度解析】LED照明发展巨大瓶颈:热阻技术检测

文章 2020-08-29 20:03

... 器件热阻测试   (1)测试方法一:   测试热阻过程中,封装产品一般的散热路径为芯片 ... )测试方法二:   与方法不同,该方法需经过两次热阻测试,对比得出热阻 ...

深入解析第五代英特尔至强处理器:64核心、更大三级缓存和更快内存

文章 2024-02-28 14:09

... 代至强芯片复杂四芯粒设计,转变为更简单双die设计 ... 每个芯片都可以启用不同数量加速器“设备”,但“+”型号芯片默认情况下每种类型 ... 该方法适用于通用性能测试,但所采用模型等因素也会相应不同。 ... ,这两款芯片速度不相上下。令人惊讶是,96核第四代 ...

【对话前沿专家】基于忆阻器科研,展望系统和器件协同测试未来可能性

文章 2024-04-26 10:25

... 提供测试平台,服务清华各院系,也满足周边中关村芯片相关企业测试需求 ... 科研工作者来说,是一种不同思路、一种先进系统和器件协同测试、表征方法,可以 ... 致力提供创新、精确、操作简便测试、测量和监测解决方案,解决 ...

... PPG和Bio-Z在可穿戴上应用潜力,ADI ADPD7008和ADPD700x助力 ...

文章 2024-07-16 16:35

... 频率是一致。同时,我可以根据不同眼睛(PD)看到不同状态 ... 仿真等方面支持。 “ADI不只是卖芯片,而卖是全栈 ... ,因此需要进行权衡。这些测试结果将被转化为一系列数据 ... 阻抗技术进行人体成分分析一种方法。其原理是通过在体表 ...

芯片及系统电源完整性建模与设计

文章 2025-07-21 10:28

... 在当今电子技术飞速发展时代,芯片及系统性能不断提升,对电源 ... ,不同行业如汽车电子 ISO 7637、航空电子 DO-254、消费电子 EMI ... 重要 IC 电源引脚、高速信号电源和地引脚等。测试方法分为有源测试(涉及电路正常 ...

数字信号处理器设计有哪些非常复杂过程?

文章 2025-07-23 08:56

... 常见有ModelSim、Verilog-XL等。芯片验证工具可以对芯片物理特性进行测试,以确定芯片稳定性和可靠性。芯片验证 ... 新设计方法需要更早地考虑散热需求,同时在考虑多芯片不同工作载荷 ...