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如何避免假冒芯片进入供应链

文章 2023-04-11 15:07

... 即便是半导体运输也必须使用特制容器和包装,否则芯片性能效率就 ... 进行常规测试以外深层次检测。这也是为何Sourceability拥有众多测试方法与前沿质量控制设备。 我们RPS Cadence蒸汽老化 ... 报告和验证时可以提供99种不同尺寸,并具备自动提供数据报告 ...

射频识别标签如何进行性能测试

文章 2023-05-17 13:20

... 技术本身信心。不同无线信号传播方式需要不同测试设备支持,并且要采用不同方法。ISO/IEC 18047-3定义了用于物品管理RFID标签性能特性测试方法, ... 标签测试内容非常多,包括Inlay芯片推力测试,标签防水防潮测试,高低温冲击测试 ...

多次可编程非易失性存储器数据保持能力测试及其激活能分析

文章 2022-02-28 10:32

... 独立单元 ,也可以作为模块成为芯片一部分 ,又称为嵌入式非易失 ... 计算带来了困扰。因此,需要一种有理论支持并通用可行测试方法来快速标定MTP存储器在不同工艺平台上数据保持能力 ... 芯片和元器件,其工作温度范围要求比较宽,根据不同安装位置等有不同 ...

什么是芯片测试?芯片测试面对哪些问题??

文章 2022-02-22 10:10

... 。经测试芯片,依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是 ... 缩短,为了找到与速度相关问题并验证电路时序,必须采用同步测试方法。同步测试必须结合 ... 有效测试策略。对深亚微米芯片和高频率工作方式,瞬变和路径延迟测试 ...

基于电力网通信芯片量产测试研究

文章 2021-08-31 12:28

... 不同是错误处理(Faildeal)部分处理不同。CP测试中DUT是整个晶圆,未通过测试芯片 ... ATE需求带来了成本压力。本文首先讨论了数模混合芯片常用测试方法,然后实现了基于爱德万T6575测试开发及调试 ...

不采用复杂EMI抑制技术,也可以实现紧凑、高性价比隔离设计!

文章 2021-08-19 16:12

... 更好方法与使用分立式变压器传统方法相比,将变压器和电路集成到芯片级 ... 量,因为在不同测试设施中,测试质量、校准和设备精度可能存在 ... 波动。如果最终产品需要在不同测试室进行测试,且必须符合CISPR22/EN55022标准 ... 测试IEC 61800-3:变速电力驱动系统—第3部分:EMC要求和具体测试方法 ...

通过应力和应变管理,实现出色高精度倾斜/角度检测性能

文章 2021-05-24 11:50

... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型测试实际上是对低噪声加速度计“初始”测试,从而增强了进一步测试信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用测试方法,这非常重要,因为失调温度 ...

全方位解析LED芯片寿命测试

文章 2020-09-05 23:09

... 对LED芯片可靠性水平进行*价,并通过质量反馈来提高LED芯片可靠性水平 ... 造成器件光衰老化因素复杂,可能有芯片因素,也有封装因素 ... 最低。   3.2光电参数测试方法与器件配光曲线   在 ...  [3]。可同时适用不同VFLED,而不必另外调整;   ...

科普LED灯珠损坏可能原因

文章 2020-09-04 15:36

... 对LED芯片造成损伤   静电对LED芯片造成损伤,使LED芯片PN结 ... 一次接地电阻测试。土壤电阻会随着季节变化而不同,春夏天雨水 ... 碳化矽衬底芯片ESD值只有1100伏,蓝宝石衬底芯片ESD值就更 ... 、鉴别虚焊死灯方法   将不亮LED灯用打火机将 ...

8位MCU测试性设计研究.pdf

下载 2020-02-23 11:26

... ,在芯片交付给客户前进行故障测试是必不可少环节。传统测试方法依赖测试向量人工 ... 过程中出现故障概率也随之提高。这样就对芯片测试和可靠性保证也 ... 方法优势和劣势逐一介绍,针对不同电路结构和特点分别对应不同测试性设计方法 ...