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碳化硅器件动态特性测试技术剖析

文章 2023-01-10 20:35

... 特性三个部分可以采用统一测试方法,即双脉冲测试。 双脉冲测试采用是 ... 固定不变,这也就是为什么在不同测试平台上测得结果差异很 ... 需要尽量排除掉寄生参数影响,获得芯片上真实波形。 最后,我们 ...

什么是芯片测试?芯片测试面对哪些问题??

文章 2022-02-22 10:10

... 。经测试芯片,依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是 ... 缩短,为了找到与速度相关问题并验证电路时序,必须采用同步测试方法。同步测试必须结合 ... 有效测试策略。对深亚微米芯片和高频率工作方式,瞬变和路径延迟测试 ...

5G芯片质量控制、测试提高芯片安全……OFweek第二期工程师技术专场演讲回顾!

文章 2021-06-25 04:02

... ,AIoT时代给芯片带来挑战各有不同,需要人们对芯片感知能力、算法 ... SoC芯片功能安全性测试 智能驾驶越来越进入大众生活同时,汽车芯片类型从之前成熟 ... 汽车安全性和可靠性,除了选对封装技术,还需要严格测试方法。从芯片前期验证到最终量产,测试主要分为特征化测试( ...

通过应力和应变管理,实现出色高精度倾斜/角度检测性能

文章 2021-05-24 11:50

... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型测试实际上是对低噪声加速度计“初始”测试,从而增强了进一步测试信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用测试方法,这非常重要,因为失调温度 ...

科普LED灯珠损坏可能原因

文章 2020-09-04 15:36

... 对LED芯片造成损伤   静电对LED芯片造成损伤,使LED芯片PN结 ... 一次接地电阻测试。土壤电阻会随着季节变化而不同,春夏天雨水 ... 碳化矽衬底芯片ESD值只有1100伏,蓝宝石衬底芯片ESD值就更 ... 、鉴别虚焊死灯方法   将不亮LED灯用打火机将 ...

8位MCU测试性设计研究.pdf

下载 2020-02-23 11:26

... ,在芯片交付给客户前进行故障测试是必不可少环节。传统测试方法依赖测试向量人工 ... 过程中出现故障概率也随之提高。这样就对芯片测试和可靠性保证也 ... 方法优势和劣势逐一介绍,针对不同电路结构和特点分别对应不同测试性设计方法 ...

ADI | 如何避免采用复杂EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比隔离设计

论坛 2023-09-06 02:11

... 情况下,集成隔离电源组件应该包含降低芯片辐射发射措施,无需在 ... 量,因为在不同测试设施中,测试质量、校准和设备精度可能存在 ... 波动。如果最终产品需要在不同测试室进行测试,且必须符合CISPR22/EN55022标准 ... 求和测试IEC61800-3:变速电力驱动系统—第3部分:EMC要求和具体测试方法 ...

物联网设备安全测试方法

论坛 2023-10-31 12:29

... 甚至同样一种功能实现,不同厂商产品漏洞危害点却在不同层面, ... 需要hook不同方法了解如何与IoT设备进行交互,也需要关注交换格式方法, ... 芯片也使用SPI。测试和分析方法与I2C类似。0x05.固件提取篇常用提取固件方法 ...

功率器件热设计基础(四)——功率半导体芯片温度和测试方法

论坛 2024-12-31 16:07

... 下图例子发现两者要差15度左右(仅是个测试案例,不同芯片尺寸和封装有较大差异)。那么,芯片虚拟结温怎么确定呢?英飞凌提出读取方法是取 ... 其中之一。总结测芯片温度有多种方案,适用与不同测试目的。热敏 ...

一个案件让你了解APM32芯片IOVIH VIL

论坛 2025-05-14 10:31

... 将芯片拆下,测试IIC两引脚PB10/PB11VIH/VIL电平;●测试结果:实测不同芯片VIL/VIH不完全相同。抽样仓库芯片正常片, ... .4IICBUSY状态验证●测试方法测试SCL/SDA不同时序,对BUSY状态影响。●测试结果:由 ...