找到约 1969 条相关结果
... 特性的三个部分可以采用统一的测试方法,即双脉冲测试。 双脉冲测试采用的是 ... 固定不变的,这也就是为什么在不同的测试平台上测得的结果差异很 ... 需要尽量排除掉寄生参数的影响,获得芯片上真实的波形。 最后,我们 ...
... 。经测试后的芯片,依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是 ... 的缩短,为了找到与速度相关的问题并验证电路时序,必须采用同步测试方法。同步测试必须结合 ... 有效的测试策略。对深亚微米芯片和高频率工作方式,瞬变和路径延迟测试 ...
... ,AIoT时代给芯片带来的挑战各有不同,需要人们对芯片的感知能力、算法 ... SoC芯片功能安全性的测试 智能驾驶越来越进入大众生活的同时,汽车芯片的类型从之前的成熟 ... 汽车的安全性和可靠性,除了选对封装技术,还需要严格的测试方法。从芯片的前期验证到最终量产,测试主要分为特征化测试( ...
... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片上的所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同的电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型的测试实际上是对低噪声加速度计的“初始”测试,从而增强了进一步测试的信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用的测试方法,这非常重要,因为失调温度 ...
... 对LED芯片造成损伤 静电对LED芯片造成损伤,使LED芯片的PN结 ... 一次接地电阻测试。土壤电阻会随着季节的变化而不同,春夏天雨水 ... 碳化矽衬底芯片的ESD值只有1100伏,蓝宝石衬底芯片的ESD值就更 ... 、鉴别虚焊死灯的方法 将不亮的LED灯用打火机将 ...
... ,在芯片交付给客户前进行故障测试是必不可少的环节。传统测试方法依赖测试向量的人工 ... 过程中出现故障的概率也随之提高。这样就对芯片的测试和可靠性保证也 ... 方法的优势和劣势逐一介绍,针对不同的电路结构和特点分别对应不同的可测试性设计方法 ...
... 情况下,集成的隔离电源组件应该包含降低芯片辐射发射的措施,无需在 ... 量,因为在不同的测试设施中,测试室的质量、校准和设备的精度可能存在 ... 波动。如果最终产品需要在不同的测试室进行测试,且必须符合CISPR22/EN55022标准 ... 求和测试IEC61800-3:变速电力驱动系统—第3部分:EMC要求和具体的测试方法 ...
... 甚至同样的一种功能实现,不同厂商的产品漏洞的危害点却在不同的层面, ... 需要hook不同的方法了解如何与IoT设备进行交互,也需要关注交换格式的方法, ... 芯片也使用SPI。测试和分析的方法与I2C类似。0x05.固件提取篇常用的提取固件的方法 ...
... 下图的例子发现两者要差15度左右(仅是个测试案例,不同芯片尺寸和封装有较大差异)。那么,芯片的虚拟结温怎么确定呢?英飞凌提出的读取方法是取 ... 其中之一。总结测芯片温度有多种方案,适用与不同的测试目的。热敏 ...
... 将芯片拆下,测试IIC两引脚PB10/PB11VIH/VIL电平;●测试结果:实测不同芯片的VIL/VIH不完全相同。抽样仓库芯片正常片, ... .4IICBUSY状态验证●测试方法:测试SCL/SDA不同的时序,对BUSY状态的影响。●测试结果:由 ...