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... 即便是半导体的运输也必须使用特制的容器和包装,否则芯片的性能效率就 ... 进行常规测试以外的深层次检测。这也是为何Sourceability拥有众多的测试方法与前沿的质量控制设备。 我们的RPS Cadence蒸汽老化 ... 报告和验证时可以提供99种不同的尺寸,并具备自动提供数据报告 ...
... 技术本身的信心。不同的无线信号传播方式需要不同的测试设备支持,并且要采用不同的方法。ISO/IEC 18047-3定义了用于物品管理的RFID标签的性能特性的测试方法, ... 标签的测试内容非常多,包括Inlay芯片的推力测试,标签的防水防潮测试,高低温冲击测试 ...
... 独立单元 ,也可以作为模块成为芯片的一部分 ,又称为嵌入式非易失 ... 的计算带来了困扰。因此,需要一种有理论支持并通用可行的测试方法来快速标定MTP存储器在不同工艺平台上的数据保持能力 ... 芯片和元器件,其工作温度范围要求比较宽,根据不同的安装位置等有不同的 ...
... 。经测试后的芯片,依其电气特性划分为不同等级。而特殊测试则是 ... 的缩短,为了找到与速度相关的问题并验证电路时序,必须采用同步测试方法。同步测试必须结合 ... 有效的测试策略。对深亚微米芯片和高频率工作方式,瞬变和路径延迟测试 ...
... 不同的是错误处理(Faildeal)部分的处理不同。CP测试中DUT是整个晶圆,未通过测试的芯片 ... ATE的需求带来了成本压力。本文首先讨论了数模混合芯片的常用测试方法,然后实现了基于爱德万T6575的测试开发及调试 ...
... 更好的方法与使用分立式变压器的传统方法相比,将变压器和电路集成到芯片级 ... 量,因为在不同的测试设施中,测试室的质量、校准和设备的精度可能存在 ... 波动。如果最终产品需要在不同的测试室进行测试,且必须符合CISPR22/EN55022标准 ... 测试IEC 61800-3:变速电力驱动系统—第3部分:EMC要求和具体的测试方法 ...
... 或电流输出。虽然ADXL355对硅芯片上的所有三轴传感器都采用了 ... 和Z传感器采用了两种完全不同的电容检测架构。X/Y传感器均 ... 这种类型的测试实际上是对低噪声加速度计的“初始”测试,从而增强了进一步测试的信心 ... µg/°C。我们需要理解此处所用的测试方法,这非常重要,因为失调温度 ...
... 对LED芯片的可靠性水平进行*价,并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平 ... 造成器件的光衰老化的因素复杂,可能有芯片的因素,也有封装的因素 ... 最低。 3.2光电参数测试方法与器件配光曲线 在 ... [3]。可同时适用不同VF的LED,而不必另外调整; ...
... 对LED芯片造成损伤 静电对LED芯片造成损伤,使LED芯片的PN结 ... 一次接地电阻测试。土壤电阻会随着季节的变化而不同,春夏天雨水 ... 碳化矽衬底芯片的ESD值只有1100伏,蓝宝石衬底芯片的ESD值就更 ... 、鉴别虚焊死灯的方法 将不亮的LED灯用打火机将 ...
... ,在芯片交付给客户前进行故障测试是必不可少的环节。传统测试方法依赖测试向量的人工 ... 过程中出现故障的概率也随之提高。这样就对芯片的测试和可靠性保证也 ... 方法的优势和劣势逐一介绍,针对不同的电路结构和特点分别对应不同的可测试性设计方法 ...