找到约 1396 条相关结果
... 高端芯片封测方案的服务商,锐杰微科技(RMT)主要聚焦复杂芯片的封装方案设计、规模化封装加工制造及成品测试,“我们的使命就是 ... ,能够将不同制程/架构、不同指令集、不同功能的硬件进行组合的异构 ... 2.5D、RDL还是中介层(Interposer)的方法,都需要解决两个问题: ...
... 探索了一种全新的数字系统芯片设计方法,开发了 ... 劳动密集型”芯片测试工厂。后来在嘉兴落成高度自动化测试工厂。 ... 手机的爆发,进一步带动了很多颗大陆芯片的蓬勃发展 ... 、“堆栈式Stacked BSI”等不同种类。 封装上, ...
... 探索了一种全新的数字系统芯片设计方法,开发了 ... 劳动密集型”芯片测试工厂。后来在嘉兴落成高度自动化测试工厂。 ... 手机的爆发,进一步带动了很多颗大陆芯片的蓬勃发展 ... 、“堆栈式Stacked BSI”等不同种类。 封装上, ...
... 收发器芯片。 概述 CAN FD标准 CAN FD(具有灵活数据速率的控制器局域网 ... 现象影响的情况下用于评估电子电气设备抗扰度的波形、测试方法和测试级别 ... 器件选项 第一种解决方案使用不同的瞬态电压抑制器(TVS)阵列。 ...
... 你们选择了一种联合开发的方法。 傅志伟(嘉宾) ... 也能使用对方的机台来测试胶,我们的KrF光刻胶 ... 是非常难的。我们不同,所有用单体的思路我们都有 ... 千斤”的作用,直接影响芯片的良率,其中的单体更是曝光显影的 ...
... 单体的分频段噪音扫频测试方法,再将大量实测数据抽象为一个统一的敏感度 ... 了第一手数值依据。 当前浪潮信息的测试数据库已覆盖市场上所有主流硬盘 ... 到极致。 不同的材质、不同的形态、不同的安装位置、不同的截面都会有不同的效果,尺寸 ... 件层面,浪潮M6服务器依靠ROM芯片冗余技术可为BIOS、BMC ...
... 发热器件发热后导致晶体和芯片感应的温度不同,这个温差也会影响高低温 ... ,实时时钟芯片的时间误差主要来源于时钟芯片中晶振的频率误差,而晶振的频率 ... 两种智能表进行日计时误差的测试。 3.1高温结果 选取60℃条件 ... 点日计时误差数据的测试对比,可知本文采用的实时误差补偿方法,在宽温度范围 ...
... 系统级测试。 “这些是我们在将芯片交付给客户之前对芯片进行的测试,以 ... 实际上每个主机都可以获取其中的一部分。 “这种方法的另一个优势是汽车制造商 ... 制造商可能会包含某些功能并设置不同的价格水平,或者减少功能并设置 ...
... 芯片的相关内容进行着重介绍和阐述,希望本文能帮您增进对ASIC芯片的 ... 设计方法又分成基于标准单元的设计方法和基于门阵列的设计方法。 基于标准单元的设计方法 ... (FPGA)原型或者软件仿真的方式,编写测试代码或者测试激励,进行逻辑验证, ...
... 将不同工艺制造的硅和非硅器件集成到一个更高级别的系统。 芯片 ... 和测试。其中,芯片封装环节为安装半导体集成电路芯片用的外壳,是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁,为芯片的电信号 ... 到了纳米量级,传统的热压、焊接封装芯片的技术方法已满足不了需求 ...