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官方宣布!安卓支持RISC-V芯片,阿里、华为早已布局

文章 2023-01-25 09:40

... 架构设计芯片,可以灵活组合及拓展多元功能模块,满足不同客户中高端应用需求。同时,RISC-V芯片在 ... 需要使用商业EDA工具进行验证和测试。 其次,一旦设计完成,就 ... 模块化方法。它有47个基本指令集,你可以为不同工作负载 ...

芯片设计了解吗?芯片设计之前后端设计介绍

文章 2023-04-04 17:14

... 参数上达到标准。逻辑综合需要基于特定综合库,不同库中, ... 芯片内部往往都自带测试电路,DFT目的就是在设计时候就考虑将来测试。DFT常见方法就是 ... 实际看见芯片。 以上就是小编这次想要和大家分享有关芯片内容, ...

适用于小尺寸面板 ESD 和 EOS 解决方案

文章 2022-12-08 09:20

... 接触放电和空气放电两种测试方法。针对不同环境和电子产品,品牌厂商可以根据实际应用环境和需求设置相应测试 ... ,ESD/EOS测试需求也将不断增加。此外,目前各类IC芯片制造工艺 ... 芯片公差越来越低。为了通过更严格ESD/EOS测试,敏感芯片接口处或附近 ...

芯片上车之一文读懂车规

文章 2022-10-24 13:54

... 安全和财产安全。 因此芯片上车首先需要在研发阶段 ... 测试验证,比如环境压力加速测试、使用寿命模拟测试、电气特性确认测试 ... 呢?一个最佳方法是看量产后实际质量数据反馈。 ... 指数级增加。 且不同企业有不同功能安全Know-How,认证 ...

基于嵌入式硬件总线式数控机床动态性能测试工具研究

文章 2022-09-22 20:17

... 方式为安川专用芯片JL101A。 基于实时以太网总线式数控系统 ... 子页面,本文所研究测试工具由于要面对各种不同类型机床,因此对 ... 测试、双轴同步测试和双轴画圆测试三种模式,插补方法 ... 采用本文所研制测试工具分别进行了三种测试。 图8所示 ...

Solidworks Simulation在半导体封装设计中应用

文章 2022-09-15 21:55

... 考量重要参数。示意图如图1所示。 按照一定测试条件获得芯片结面到固定位置热阻值(Rthjx),其 ... 改善方法及介绍 不同产品结构在散热/热应力等方面反应是不同。在相同 ...

proteanTecs 首席战略官 Uzi Baruch谈论监控芯片制造

文章 2022-09-15 09:20

... 软件相结合想法一直存在。 proteanTecs基于一种智能片上监测方法——通用芯片 ... 是试图通过收购相互结合不同技术零碎。最后背后想法是大量 IP, ... 是非常独特,因为当今大多数现有技术都非常受限于测试。 你最近 ...

IBM 锵锵三人行:新一代IBM z16 为构建企业未来而生

文章 2022-06-16 14:35

... 我们介绍一下z16芯片技术独特性,它和当今客户实现方法相比有什么优势 ... 性能结果是从IBM内部测试中推断出来,该测试在Ubuntu 20.04( ... 被钉在不同芯片第一个核心上。lscpucommand被用来识别核心-芯片拓扑 ...

Solidworks Simulation在半导体封裴设计中应用

文章 2022-05-21 14:26

... 考量重要参数。示意图如图1所示。 按照一定测试条件获得芯片结面到固定位置热阻值(Rthjx) ... 改善方法及介绍 不同产品结构在散热/热应力等方面反应是不同。在相同 ...

GaN组件单片集成提升了功率集成电路

文章 2022-05-24 16:45

... 分立元件组装。这种方法缺点是存在影响器件性能寄生电感。  以 ... GaN 卓越开关速度最佳方法是将驱动器和 HEMT 集成在同一芯片上。  ... 将专注于提高现有平台性能并进行进一步可靠性测试。该公司目前提供 ... 更厚外延堆叠,因为源极和漏极位于堆叠不同端。芯片表面积 ...