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... 公司以“新型集成电路支撑结构及其制作方法”等为核心进行高新技术成果转化， ... 需求定制开发各种不同功能应用的IC测试方案及整机设备，测试方案涵盖：数字 ... 和产品、单芯片的VCD系统等，并即将推出单芯片的DVD系统和其他 ... 能力、优异的硬件设计能力、强大的测试能力和以SiP为核心的先进封装 ...
... ，属于一种集成式电路芯片，单片机的发展先后经历了4位、 ... 对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法，但是有一些是必须测试的： 1.测试单片机软件功能的完善 ...
... 适配LED灯具。 最为传统的配置方法是采用不同电阻值来配置（拨 ... NFC 控制芯片的PWM 输出直接连接到ILD8150(E)的DIM脚，实现更简单的输出 ... 直接将NFC控制芯片的输出PWM信号输出至LED控制IC的调光脚， ... 实际通讯测试，并根据测试结果调整外接电容的容量以实现最好的通讯质量 ...
... 芯片的颠覆。这也增加了能够验证、测试和模拟真实驾驶舱行为的软件平台的 ... 进行的软件改进之外，使用基于硬件的开发方法意味着在您拥有可用于测试的更新的 ... 确定的，从而导致多个测试产生不同的结果。缺乏确认的测试结果会导致更多的测试、时间损失和更多的 ...
... 基准测量收集数据可能会受到不同外部因素的影响。应补偿这些因素以 ... ，使用温度强制系统在不同温度条件下进行测试，以获取最小、 ... 上拉和下拉数据实施相同的方法。但在这种情况下，ADuM4146 ... 实际芯片测量时获得更高的精度水平。 致谢 感谢ADI设计工程师、ADGT测试 ...
... 生产出来的芯片进行故障检验。缺陷故障测试基于实际生产完成的芯片，通过检验芯片的生产 ... 电压测试的观测信息是被测电路的逻辑输出值。此方法通过对电路输入不同的测试向量得到对应电路的逻辑 ...
... ARM的老友StrongerHuang也表示其技术交流群正在讨论芯片涨价和咸鱼上卖芯片的话题，并撰写了一文揭露了背景和识别翻新假货的方法。 ... 器的基地址。 提示：不同芯片型号，可能这个寄存器地址不同。比如F103的 ... 数据（RAM、Flash）测试、各种外设基本功能测试等。 END 来源： ...
... 加速芯片的开发，AI计算芯片多元化趋势凸显。由于缺乏统一的业界规范，不同厂商的AI加速芯片存在显著差异，导致不同芯片需要定制化的系统硬件平台承载，带来更高的 ... 协同设计、全面系统测试和性能测评调优的设计方法，以提高适配 ...
... 。有关适合高分辨率带宽ADC的典型测试台的典型测试配置，请参考图1 ... 使用基于角旋转的方法有效生成复杂信号。这种方法以流行的CORDIC为代表， ... 长数字时。作为一家DSP VLSI芯片制造商，ADI公司从一开始就 ... 下，对传统的AD1862进行测试，结果显示频率行为略微不同。在差分 ...
... 。解决方法：一是添加布尔式的消去项；二是在芯片外部 ... ，如何处理信号跨时域？ 不同的时钟域之间信号通信时需要进行 ... 设计的验证中。 动态时序模拟就是通常的仿真，因为不可能产生完备的测试向量，覆盖门级网表中的 ...
