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Speedster7t FPGA芯片中GDDR6硬核控制器详解

文章 2021-11-22 17:42

... 目前芯片良率和产量都会受到很大影响,所以集成HBM2 ... 是用于内存测试模块,Mem Test内存测试模块支持生成不同数据类型去 ... 命令总线将容量加倍一种方法。 图4 GDDR6 Clamshell模式 ...

为什么必须做功能覆盖率?and How ?

文章 2021-11-12 14:14

... 验证效率更高,定向测试需要对每个功能点,每个测试维度去构造不同用例测试,只能是想多少测多少,激励空间是已知 ... ,如果采用主动驱动方法,可以提前筛选掉重复随机,只采用对 ...

为什么必须做功能覆盖率?and How ?

文章 2021-11-03 14:54

... 验证效率更高,定向测试需要对每个功能点,每个测试维度去构造不同用例测试,只能是想多少测多少,激励空间是已知 ... ,如果采用主动驱动方法,可以提前筛选掉重复随机,只采用对 ...

为什么必须做功能覆盖率?and How ?

文章 2021-11-02 09:38

... 验证效率更高,定向测试需要对每个功能点,每个测试维度去构造不同用例测试,只能是想多少测多少,激励空间是已知 ... ,如果采用主动驱动方法,可以提前筛选掉重复随机,只采用对 ...

Cadence发布突破性新产品 Integrity 3D-IC平台,加速系统创新

文章 2021-10-08 14:08

... 单一脱节Die-by-Die设计实现方法芯片设计工程师 ... 环境无缝迁移至系统不同环节,快速实现设计收敛 ... 芯片 PHYIP 互联,实现面向延迟、带宽和功耗PPA ... 通信应用内存带宽需求设计。” - SaneChips 封装与测试部 ...

TVS二极管失效分析

文章 2021-09-13 13:59

... 和试验证明等方法分析导致7rvS 器件短路失效原因。分析结果 ... 筛选试验后,进行电参数测试时通常表现为短路或击穿特性 ... 均匀,使硅片各处击穿电压不同,从而使器件击穿时管芯 ... 芯片中心周围。随着芯片温度升高,芯片中心周围产生熔融通道。当熔融从芯片 ...

数智泰克,创赢未来,泰克助力第四次工业革命再出发

文章 2021-06-16 18:22

... 工业革命开端。 泰克2021创新科技论坛聚焦数据中心、半导体设计、芯片 ... 但是给研发工程师带来了全新测试挑战,传统测试工具因其高频,高 ... 性能测试;多种不同配置方案,满足不同客户需求;内置忆阻器性能测试 ... ,交流测试方法及工具;热门应用展示区,定期更新最新应用测试方案, ...

长江存储SSD知识科普,一文读懂精髓所在!

文章 2020-11-23 12:31

... 硬盘寿命也会受到不同因素影响,写入寿命本身是产品通过验证和测试后一个重要认证 ... 。长江存储使用磨损均衡管理同业界使用方法是一致。坏块管理 ... 5-6G左右。 此外,长江存储芯片也不仅仅开发给消费者,也会 ...

电源设计中常见维修电路板技术汇总

文章 2020-10-19 23:43

... 电容在电路中所起作用不同,引起故障也各有特点 ... 芯片就可以判断运算放大器好坏了。 三、万用表测试 SMT 元件 ... 在此推荐一比较管用方法,采用此法,事半功倍,往往 ... 电压加在电路电源电压点如 74 系列芯片 5V 和 0V 端 ...

1nm将如何实现?

文章 2020-10-15 09:35

... 芯片关键部分 前沿逻辑芯片制造可以细分为三个独立 ... 一个晶体管。BEOL由不同金属层、局部(Mx) ... 制造。 在VLSI 2020上,imec在FinFET CMOS测试 ... 最关键参数。解决这个问题一种方法是 ...