找到约 3274 条相关结果
在发现基本计数ADC架构(参见教程MT-026)后,通过结合集成和计数技术就能实现更高精度,进而推动了高精度双斜率、三斜率和四斜率ADC的开发。
当我们需要设计一个具有特定性能的DAC时,很可能没有任何一种架构是理想的。这种情况下,可以将两个或更多DAC组合成一个更高分辨率的DAC,以获得所需的性能。这些DAC可以是同一类型,也可以是不同类型,各DAC的分辨率无需相同。
与其将DAC视为具有数字输入和模拟输出的黑匣子,不如了解当今所用的DAC基本架构,这样将更有利于应用,而且能简化选型过程,否则考虑到市场上数不胜数的DAC,产品选型可能非常棘手。